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JBRT-300型智能金屬箔電阻率測(cè)量?jī)x是一款便攜全自動(dòng)測(cè)量金屬箔、金屬薄帶的電阻率、電導(dǎo)率等參數(shù)高性能檢測(cè)儀器。應(yīng)用電流–電壓降四端子測(cè)量法、優(yōu)良的電子技術(shù)、單片機(jī)技術(shù)及自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)設(shè)計(jì)的高新產(chǎn)品。其性能符合GB/T22638.6－2016中的相關(guān)技術(shù)要求。廣泛應(yīng)用于金屬箔、金屬薄帶、電池極耳等新能源領(lǐng)域及電力電工、電機(jī)電器、高等院校、科研單位等行業(yè)。

HTIM-300高低溫材料電阻率測(cè)試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線。目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等測(cè)試樣品進(jìn)行測(cè)試，可以廣泛用于半導(dǎo)體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導(dǎo)體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導(dǎo)體GaA

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測(cè)試儀是一款針對(duì)薄膜測(cè)試的專用設(shè)備，測(cè)試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）器件的介電性能測(cè)量與分析，可測(cè)試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算獲得反

PV520A-S超聲元件阻抗分析儀是由清華大學(xué)自動(dòng)化系和中國(guó)科學(xué)院聲學(xué)所共同研制開發(fā)的。測(cè)試如下以及十多個(gè)參數(shù)：諧振頻率 Fs 、大電導(dǎo) Gmax 、帶F2-F1 、反諧振頻率 Fp 、品質(zhì)因數(shù) Qm 、自由電容 CT 、動(dòng)態(tài)電阻 R1 、動(dòng)態(tài)電感L1 、動(dòng)態(tài)電容 C1 、靜態(tài)電容 C0 、有效機(jī)電耦合系數(shù) Keff 。用于壓電超聲器件和設(shè)備的檢測(cè)綜合性解決方案.也是目前高校和生產(chǎn)單位的重要檢測(cè)儀

TSDC-100型高低溫?zé)岽碳る娏鳒y(cè)量?jī)x,熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系(thermally stimulated depolar-ization currents,簡(jiǎn)寫為TSDC或TSC)是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流?；痉椒ㄊ菍⒃嚇訆A在兩電極之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā)，然后施加一個(gè)直流的極化電壓，經(jīng)過一段時(shí)間使樣品充分極化，以便載流子向電極漂移或偶極子

PEA-101A+型絕緣材料空間電荷激發(fā)及測(cè)試系統(tǒng)