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JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀
JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設(shè)備，測試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）器件的介電性能測量與分析，可測試以下...
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三電極 HTIM-1600℃超高溫絕緣電阻測試儀
HTIM-1600超高溫絕緣電阻測試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2&...
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2024年柔性材料實驗室建設(shè)一覽表（拉伸）
2024柔性材料電子測試實驗室設(shè)備一覽表1、實驗室內(nèi)設(shè)備在使用時要細心謹慎。2、實驗室內(nèi)一切儀器設(shè)備未經(jīng)允許不得拆開，設(shè)備配件專配專用，不得拆作他用，不得攜帶至室外。3、嚴禁私拉亂接電源、實驗室內(nèi)任何...
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ZJ-3A/B/J型壓電測試儀/D33測量儀
一、產(chǎn)品介紹： ZJ-3A/B/J型壓電測試儀（靜壓電系數(shù)d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計的專用儀器，它可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，...
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ACDC-T3型管道防腐層陰極剝離性能試驗裝置
ACDC-T3型管道防腐層陰極剝離性能試驗裝置是我們根據(jù)新對涂層耐陰極剝離的實驗要求規(guī)范研制的一款設(shè)備，用于測試有機涂裝層，因浸泡于電解液中涂層及金屬體系防護性能失效的試驗設(shè)備，有機涂層軒劣化和涂層下...
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JRT-MIT200陶瓷自動精密研磨拋光機四件套
JRT-MIT200陶瓷自動精密研磨拋光機四件套設(shè)備是用于晶體、陶瓷、金屬、玻璃、巖樣、礦樣等材料的研磨拋光制樣，是科學研究、生產(chǎn)實驗的磨拋設(shè)備。本機設(shè)置了Φ203mm的研磨拋光盤和兩個加工工...
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BKTEM-D5型塞貝克系數(shù)和電阻系數(shù)測試系統(tǒng)
BKTEM-D5型塞貝克系數(shù)和電阻系數(shù)測試系統(tǒng)概述熱電材料（也稱溫差電材料，thermoelectric materials）是一種利用固體內(nèi)部載流子運動，實現(xiàn)熱能和電能直接相互轉(zhuǎn)換的功能材料。熱電效...
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THMSG-600地質(zhì)流體包裹體冷熱臺
THMSG-600地質(zhì)流體包裹體冷熱臺是基于設(shè)計非常成功的THMS600冷熱臺進行升級和改裝后專門用于地質(zhì)的冷熱臺。LNP95液氮冷卻系統(tǒng)的冷卻速度是由0.01℃/分鐘至150 ℃ /分鐘。這種高效的...
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JKMDSG-600型地質(zhì)冷熱臺
測量地質(zhì)流體包裹體的均一化溫度和冰點溫度是地質(zhì)流體包裹體研究中一項重要的內(nèi)容。電動地質(zhì)流體包裹體冷熱臺是專門為此目的而設(shè)計的。JKMDSG-600型地質(zhì)冷熱臺采用高導熱的銀質(zhì)加熱臺、高精度測溫鉑電阻和...
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JKMDS-600型半導體冷熱臺
JKMDS-600型半導體冷熱臺是使用最為廣泛的THMS600型高精度冷熱臺的加強型。其寬泛的溫度范圍（-196°C到600°C）和升溫速率（0.1到150°C/min）...
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JKLR-420E型高低溫半導體冷熱臺
JKLR-420E型冷熱臺是為液晶研究而設(shè)計的。為了給樣品施加電場或測量樣品的信號，在常規(guī)冷熱臺的基礎(chǔ)上增加了內(nèi)部電極，并配有液晶池和載物臺。同時由于熱臺腔室的密閉性，可以控制腔室內(nèi)的環(huán)境氛圍，如濕度...
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JKLR-420高低溫半導體冷熱臺
JKLR-420高低溫半導體冷是可以使用顯微鏡載物片載樣，且容易使用的通用型冷熱臺。此系列冷熱臺為大區(qū)域冷熱臺，主要用于等溫分析，不需要非常高的加熱和冷卻速率，溫度的熱穩(wěn)定性優(yōu)于0.1°C。...
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